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MiniTest1100/21/31/4100 涂层测厚仪
]资料
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产品名称:
MiniTest1100/21/31/4100 涂层测厚仪
产品型号:
MiniTest1100/2100/3100/4100
产品展商:
德国EPK
产品文档:
简单介绍
MiniTest1100/2100/3100/4100 涂层测厚仪包括四种不同的主机,各自具有不同的数据处理功能,MiniTest1100/21/31/4100 涂层测厚仪均可配所有探头,可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机,可使用一片或二片标准箔校准。F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层N型探头:测量有色金属基体上的绝缘覆层FN两用探头:同时具备F型和N型探头的功能.
MiniTest1100/21/31/4100 涂层测厚仪
的详细介绍
MiniTest1100/2100/3100/4100涂镀覆层测厚仪
MiniTest1100/21/31/4100 涂层测厚仪包括四种不同的主机,各自具有不同的数据处理功能,所有型号均可配所有探头,可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机,可使用一片或二片标准箔校准。
F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层
N型探头:测量有色金属基体上的绝缘覆层
FN两用探头:同时具备F型和N型探头的功能
所有探头都可配合任一主机使用
在选择适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素
MiniTest1100/2100/3100/4100 涂层测厚仪数据处理功能;
所有型号均可配所有探头;
可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机;
可使用一片或二片标准箔校准
|
型号 |
1100
|
2100
|
3100
|
4100
|
MINITEST存储的数据量 |
应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数) |
1
|
1
|
10
|
99
|
每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计计算,并可设宽容度极限值) |
|
1
|
10
|
99
|
可用各自的日期和时间标识特性的组数 |
|
1
|
500
|
500
|
数据总量 |
1
|
10000
|
10000
|
10000
|
MINITEST统计计算功能 |
读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar |
|
√
|
√
|
√
|
读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
|
|
√
|
√
|
组统计值六种x,s,n,max,min,kvar |
|
|
√
|
√
|
组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
|
|
√
|
√
|
存储显示每一个应用行下的所有组内数据 |
|
|
|
√
|
分组打印以上显示和存储的数据和统计值 |
|
|
√
|
√
|
显示并打印测量值、打印的日期和时间 |
|
√
|
√
|
√
|
其他功能 |
设置极限值 |
|
|
√
|
√
|
连续测量模式快速测量,通过模拟柱识别大小值 |
|
|
√
|
√
|
连续测量模式中测量稳定后显示读数 |
|
|
√
|
√
|
连续测量模式中显示小值 |
|
|
√
|
√
|
|
|
探头
|
量程
|
低端
分辨率
|
误差
|
小曲率半径
(凸/凹)
|
小测量
区域直径
|
小基
体厚度
|
探头尺寸
|
磁
感
应
法
|
F05
|
0-500μm
|
0.1μm
|
±(1%±0.7μm)
|
1/5mm
|
3mm
|
0.2mm
|
φ15x62mm
|
F1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ15x62mm
|
F1.6/90
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
平面/6mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ8x8x170mm
|
F2/90
|
0-2000μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
平面/6mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ8x8x170mm
|
F3
|
0-3000μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ15x62mm
|
F10
|
0-10mm
|
5μm
|
±(1%±10μm)
|
5/16mm
|
20mm
|
1mm
|
φ25x46mm
|
F20
|
0-20mm
|
10μm
|
±(1%±10μm)
|
10/30mm
|
40mm
|
2mm
|
φ40x66mm
|
F50
|
0-50mm
|
10μm
|
±(3%±50μm)
|
50/200mm
|
300mm
|
2mm
|
φ45x70mm
|
两
用
|
FN1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
F0.5mm/N50μm
|
φ15x62mm
|
FN1.6P
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
平面
|
30mm
|
F0.5mm/N50μm
|
φ21x89mm
|
FN2
|
0-2000μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
F0.5mm/N50μm
|
φ15x62mm
|
电
涡
流
法
|
N02
|
0-200μm
|
0.1μm
|
±(1%±0.5μm)
|
1/10mm
|
2mm
|
50μm
|
φ16x70mm
|
N.08Cr
|
0-80μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
2.5mm
|
2mm
|
100μm
|
φ15x62mm
|
N1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
2mm
|
50μm
|
φ15x62mm
|
N1.6/90
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
平面/10mm
|
5mm
|
50μm
|
φ13x13x170mm
|
N2
|
0-2000μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
50μm
|
φ15x62mm
|
N2/90
|
0-2000μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
平面/10mm
|
5mm
|
50μm
|
φ13x13x170mm
|
N10
|
0-10mm
|
10μm
|
±(1%±25μm)
|
25/100mm
|
50mm
|
50μm
|
φ60x50mm
|
N20
|
0-20mm
|
10μm
|
±(1%±50μm)
|
25/100mm
|
70mm
|
50μm
|
φ65x75mm
|
N100
|
0-100mm
|
100μm
|
±(1%±0.3mm)
|
100mm/平面
|
200mm
|
50μm
|
φ126x155mm
|
CN02
|
10-200μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
平面
|
7mm
|
无限制
|
φ17x80mm
|
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头,用于管内测量。
N.08Cr适合铜上铬,FN2也适合铜上铬。
CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。 |
测头 F05 |
(铁基体涂镀层 小测量面积直经3mm 0-500um,低端分辨率0.1um) |
测头 F3 |
(铁基体涂镀层 0-3000um,低端分辨率0.2um) |
测头 F1.6 |
(铁基体涂镀层 0-1600um,低端分辨率0.1um) |
测头 F1.6P |
(铁基体上未固化粉末涂层 0-1600um,低端分辨率0.1um) |
测头 F1.6/90 |
(铁基体涂镀层 测管内壁 0-1600um,低端分辨率0.1um) |
测头 F10/2,F20 |
(铁基体涂镀层 0-10mm,分辨率5um,0-20mm,分辨率10um) |
测头 F50 |
(铁基体涂镀层 0-50mm,分辨率,10um) |
测头 FN1.6 |
(铁及铜铝基体涂镀层 0-1600um,分辨率0.1um) |
测头 FN1.6P |
(铁及铜铝基体上未固化粉末涂层 0-1600um,分辨率0.1um) |
测头 N02 |
(铜铝基体涂层 0-200um,分辨率,0.1um) |
测头 N08 Cr |
(铜基体上镀铬层 0-800um,分辨率0.1um) |
测头 N02 Tu |
(铝箔或铝薄壁管上薄涂层 0-200um,分辨率0.1um) |
用于测头N02 Tu的专用支架 |
|
测头 N1.6 |
(铜铝基体涂层 0-1600um,分辨率0.1um) |
测头 N1.6/90 |
(铜铝基体涂层 测管内壁 0-1600um,分辨率0.1um) |
测头 N10/2,N20 |
(铜铝基体涂镀层 0-10mm,分辨率10um,0-20mm,分辨率10um) |
测头 N100 |
(铁及铜铝基体涂镀层 0-100mm,分辨率100um) |
测头 CN 02 |
(敷铜板等 10-200um,分辨率0.2um) |
RS232 接口电缆 for 2100/4100 |
配MiniTest 1100/2100/3100/4100 (用于连接个人电脑) |
MSOFT41 数据分析软件 for 4100 |
配MiniTest 1100/2100/3100/4100 (用于连接个人电脑) |